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IEC 60068-2-13 是國際電工委員會（IEC）發(fā)布的一項環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》。該標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布于1983年，旨在模擬低氣壓環(huán)境對電子元器件、設(shè)備及其他產(chǎn)品的影響，評估其在低氣壓條件下的存儲、運輸和使用能力。
該標(biāo)準(zhǔn)適用于所有可能在低氣壓環(huán)境中使用或儲存的產(chǎn)品，尤其是電子電工產(chǎn)品。例如：
航空航天設(shè)備
高海拔地區(qū)使用的電子設(shè)備
車載或機(jī)載電子系統(tǒng)
任何需要在高空或低氣壓環(huán)境下工作的產(chǎn)品
注意：若產(chǎn)品同時面臨低氣壓與高/低溫復(fù)合環(huán)境，應(yīng)參考IEC 68-2-40（低溫/低氣壓復(fù)合試驗）或IEC 68-2-41（高溫/低氣壓復(fù)合試驗）。
氣壓范圍：1 kPa 至 84 kPa（對應(yīng)海拔約31200米至接近海平面）
溫度：實驗室常溫（通常為15°C–35°C）
持續(xù)時間：5分鐘、30分鐘、2小時、4小時或16小時（根據(jù)產(chǎn)品規(guī)范選擇）
低氣壓高低溫濕熱試驗箱：能精確控制氣壓，偏差不超過±5% 或 ±0.1 kPa（取較大值）
氣壓監(jiān)測與控制系統(tǒng)
溫度控制設(shè)備（保持常溫）
避免污染：需確保試驗過程中空氣不被設(shè)備或輔助裝置污染
初始檢測：對樣品進(jìn)行外觀、電氣和機(jī)械性能檢查。
放置樣品：將未包裝、未通電的樣品放入試驗箱，處于“待用狀態(tài)”。
降壓：以不超過10 kPa/min的速度將氣壓降至目標(biāo)值。
保持條件：在目標(biāo)氣壓下保持規(guī)定時間。
運行測試（若適用）：樣品可在低壓下通電運行，進(jìn)行功能檢查。
恢復(fù)常壓：以不超過10 kPa/min的速度恢復(fù)至正常氣壓。
試驗結(jié)束后，樣品應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下（通常為23°C，50%RH）恢復(fù) 1至2小時，之后進(jìn)行最終檢測。
試驗箱應(yīng)能穩(wěn)定維持指定氣壓，精度符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
對于散熱較大的樣品，需特別注意箱內(nèi)溫度控制，必要時參考IEC 68-2-41（Z/BM試驗）的要求。
氣壓變化速率：若產(chǎn)品對壓力變化敏感，應(yīng)限制降壓/升壓速率（通常≤10 kPa/min）。
散熱樣品：可能需要先達(dá)到熱穩(wěn)定再降壓，或在進(jìn)行功能測試時保持運行狀態(tài)。
記錄與報告：應(yīng)詳細(xì)記錄試驗條件、樣品狀態(tài)、中間測量結(jié)果及最終性能數(shù)據(jù)。
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